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MT-F2000芯片銀漿爬膠厚度測量儀
/銀漿爬坡檢測儀/芯片銀漿厚度測量儀/銀漿Silver Paste高度測試儀/銀漿爬坡45度測量顯微鏡/銀漿高度測量系統(tǒng)/銀漿爬坡檢測儀/斜視測量儀
全新銀漿(爬膠)高度45度檢測系統(tǒng)集多項**于一身,從外觀到性能都緊跟國際**設計風向,致力于拓展工業(yè)領域新格局。秉承不斷探索、不斷超越的品牌設計理念,為客戶提供完善的工業(yè)檢測解決方案。
銀漿(爬膠)高度45度檢測系統(tǒng)是半導體銀漿silver paste高度專業(yè)檢測儀器,也稱之為銀漿厚度檢測儀;在半導體芯片加工中,需要對芯片die中的晶圓wafe進行銀漿固定,這就需要對固定工藝進行檢測,已判斷銀漿的高度或厚度是否達到指定的技術指標;此系列檢測儀是此工藝專業(yè)檢測儀器,通過顯微鏡非接觸圖像識別的方式進行觀察及量測,配專業(yè)相機、軟件及固定治具;快速有效的檢測此工藝技術指標;此系列產(chǎn)品還廣泛用于PCB行業(yè)、LED封裝行業(yè)、金屬行業(yè)、材料加工行業(yè)等;
型號
OMT-F2000配置
光學系統(tǒng)
2D齊焦齊心定格定倍光學系統(tǒng)
光學放大倍數(shù)
0.7倍-4.5倍
數(shù)碼放大倍數(shù)
40倍-270倍(23.8寸顯示器)
高清
圖像處理系統(tǒng)
1200萬1/2寸彩色索尼工業(yè)芯片,高靈敏度、低噪聲SENSOR,性能強大,預覽流暢;
像元尺寸:3.75um*3.75um/數(shù)據(jù)位數(shù):12bit 逐行曝光
分辨率:4000*3000
輸出接口
USB3.0數(shù)據(jù)輸出接口
拍照
拍照(鼠標拍照存儲在U盤)
測量
全新測量系統(tǒng)
觀察角度
45度
光源
OMT-60X長壽命可調亮度LED光源
夾式可調LED冷光源,單顆射燈
支架
8英寸載物臺,平臺面積 300*270mm,移動行程:200mmX200mm機械平臺,X、Y方向同軸調節(jié);
8英寸平臺,平臺面積 525*330mm,移動行程:210mmX210mm機械平臺,X、Y方向同軸調節(jié);含快速移動裝置(型號:MT-F2000-PRO)
電腦
主流品牌臺式電腦主機
顯示器
23.8寸高清HDMI液晶顯示器分辨率1920*1080
標尺
高精度型測微尺,格值0.01mm